技術(shù)編號：6769403
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及半導(dǎo)體存儲器，特別是涉及一種非易失存儲器的過擦除校驗方法和校驗系統(tǒng)。背景技術(shù)為了驗證存儲器產(chǎn)品的正確性，在產(chǎn)品出廠前會進行一連串的測試流程。這些存儲產(chǎn)品可以包括非揮發(fā)性存儲器產(chǎn)品(例如，快閃存儲器Flash，或是可電除可編程只讀存儲器EEPROM等)，也可以包括一次性可編程OTP類存儲器。一般的測試流程可以包括產(chǎn)品管腳(Pin)的短路/斷路測試、邏輯功能測試、電擦除特性測試(以判斷該揮發(fā)性存儲器內(nèi)的資料是否可以被電擦除且再寫入新資料)、程序碼測試...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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