技術編號：6768640
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明構(gòu)思的實施例涉及一種半導體器件和系統(tǒng)，并且更具體而言，涉及將作為 控制信號的光信號提供給存儲器的半導體存儲器系統(tǒng)。背景技術存儲器系統(tǒng)可以包括半導體存儲器器件和存儲器控制器。半導體存儲器器件響應 于從存儲器控制器施加的控制信號來存儲數(shù)據(jù)或輸出所存儲的數(shù)據(jù)。存儲器系統(tǒng)可以在測 試操作期間對半導體存儲器器件中的所有存儲器單元執(zhí)行測試，以識別正常存儲器單元的 地址和缺陷存儲器單元的地址。然而，在控制信號從存儲器控制器到半導體存儲器器件的傳遞過程中，會出現(xiàn)錯 ...
注意：該技術已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權人授權前，僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權，增加技術思路，做技術知識儲備，不適合論文引用。
該類技術無源代碼，用于學習原理，如您想要源代碼請勿下載。