技術(shù)編號：6765649
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本申請案涉及一種嵌入式存儲器測試系統(tǒng)。本發(fā)明涉及一種用于測試嵌入式存儲器的可編程內(nèi)建自測試pBIST系統(tǒng)，其中將所述受測試存儲器并入于不與pBIST模塊集成的多個子芯片中。將分布式數(shù)據(jù)記錄器并入到每一子芯片中，所述分布式數(shù)據(jù)記錄器經(jīng)由串行及經(jīng)壓縮并行數(shù)據(jù)路徑與所述pBIST通信。專利說明嵌入式存儲器測試系統(tǒng)[0001]本發(fā)明的是高速存儲器測試，且更特定來說，涉及一種用于嵌入式存儲器的內(nèi)建自測試(BIST)系統(tǒng)。背景技術(shù)[0002]測試所制作的集成電路以確定...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
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