技術(shù)編號(hào):6765602
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供了一種,包括配置信息存儲(chǔ)單元、控制邏輯單元、測(cè)試模式控制模塊和檢測(cè)電路,在傳統(tǒng)的非揮發(fā)性存儲(chǔ)器的電路中加入了檢測(cè)電路,當(dāng)非揮發(fā)性存儲(chǔ)器上電后,檢測(cè)電路開始工作,實(shí)時(shí)檢測(cè)非揮發(fā)性存儲(chǔ)器的工作狀態(tài)信息,并根據(jù)所述工作狀態(tài)信息生成對(duì)應(yīng)的校調(diào)信息,然后再根據(jù)所述校調(diào)信息對(duì)非揮發(fā)性存儲(chǔ)器進(jìn)行校調(diào),由于測(cè)試電路不需要連接外部設(shè)備輸入外部指令,即可實(shí)時(shí)生成校調(diào)信息,從而實(shí)現(xiàn)了非揮發(fā)性存儲(chǔ)器的自動(dòng)校調(diào),大大節(jié)約了測(cè)試時(shí)間,降低了測(cè)試成本。專利說明[0001]本發(fā)...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
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