技術(shù)編號(hào)：6762590
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及由組裝自測(cè)試(BIST)進(jìn)行的存儲(chǔ)器的測(cè)試、特別是具有冗余單元的存儲(chǔ)器的測(cè)試、以及能進(jìn)行存儲(chǔ)器周邊邏輯的測(cè)試的。背景技術(shù) 近年來，安裝在半導(dǎo)體集成電路(LSI)中的存儲(chǔ)器的數(shù)目和規(guī)模(位寬數(shù)·字?jǐn)?shù))持續(xù)增大。與此相對(duì)應(yīng)，用測(cè)試器從外部檢查安裝在LSI中的存儲(chǔ)器所必要的外部引腳數(shù)和測(cè)試時(shí)間都會(huì)增加。對(duì)此，在LSI內(nèi)部進(jìn)行存儲(chǔ)器的檢查的BIST(Built In SelfTest內(nèi)置自測(cè)試)技術(shù)的重要性提高了。通過采用BIST技術(shù)，能用少量的外部引腳...
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