技術(shù)編號：6753806
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明系相關(guān)于一種設(shè)定用于一集成內(nèi)存之一測試模式的一電壓供應(yīng)的電路裝置。背景技術(shù) 為了最小化集成芯片在制造完成之后的失敗率，一預(yù)燒測試(burn-in test)(亦稱之為應(yīng)力測試)系加以實(shí)行，以實(shí)現(xiàn)一人工加速的預(yù)燒，而如此的一預(yù)燒，當(dāng)個(gè)別之集成電路尚未被切開(singulated)并以與該晶圓結(jié)合之方式呈現(xiàn)時(shí)，其系可以在晶圓等級實(shí)行，或者是，在切開程序之后，可以被實(shí)施于已經(jīng)分開并且可能也已經(jīng)封裝完成之芯片之上。以挑出那些在一短暫操作時(shí)間之后可能已經(jīng)失敗的...
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