技術編號：6745860
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。,熱粗糙消除方法,磁盤裝置及其重試方法本發(fā)明一般涉及熱粗糙(thermal asperity)檢測方法，熱粗糙消除方法，磁盤裝置及其重試方法，更具體地說，涉及一種檢測磁盤裝置中的熱粗糙的方法，消除所述熱粗糙的方法，具有用于檢測并消除所述熱粗糙的裝置的磁盤裝置，和通過檢測磁盤裝置中的熱粗糙進行重試的重試方法。近來，已經(jīng)提供了具有磁阻效應型(MR)磁頭的磁盤裝置，其中使用磁阻(MR)元件。此外，隨著磁盤記錄密度的增加，MR磁頭和磁盤之間的浮動距離變小。因此，M...
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