技術(shù)編號：6745019
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及非易失性半導(dǎo)體存儲器裝置的檢測放大器電路，特別涉及具有NAND結(jié)構(gòu)單元(NAND Structured cell)的閃速(flash)EEPROM(electrically era-sable and programmable read-onlymemory)裝置的檢測放大器電路。一般，在像筆記本大小的便攜式電池供電的微計算機系統(tǒng)中，因主要作為輔助存儲裝置用的硬盤占有相當大的面積，因而系統(tǒng)設(shè)計者對開發(fā)占據(jù)更小面積的高密度、高性能的EEPROM深表...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學(xué)習原理，如您想要源代碼請勿下載。