技術(shù)編號：6741459
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種改善襯墊測試覆蓋率的芯片和改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法，尤指一種利用控制器控制沒有耦接于探針的襯墊讀/寫預(yù)定數(shù)據(jù)，以改善襯墊測試覆蓋率的芯片和改善芯片襯墊測試覆蓋率的方法。背景技術(shù)請參照圖1和圖2，圖1是為現(xiàn)有技術(shù)說明一測試機臺的探針100利用一數(shù)據(jù)壓縮的方式寫入測試數(shù)據(jù)TD至一芯片200的示意圖，和圖2為現(xiàn)有技術(shù)說明測試機臺的探針100利用數(shù)據(jù)壓縮的方式從芯片200讀取測試數(shù)據(jù)的示意圖。如圖1所示，探針100通過一襯墊202和一離線驅(qū)動單元...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。
該類技術(shù)無源代碼，用于學(xué)習(xí)原理，如您想要源代碼請勿下載。