技術(shù)編號(hào)：6552874
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及從包括與多個(gè)預(yù)定投影方向相對(duì)應(yīng)測(cè)量的多個(gè)投影函數(shù)的n維或更低維的氡數(shù)據(jù)來重建(n+1)維圖像函數(shù)的方法。此外，本發(fā)明涉及基于上述重建方法對(duì)檢查區(qū)域進(jìn)行成像的方法和設(shè)備。背景技術(shù) 在諸如材料科學(xué)、醫(yī)療檢查、考古學(xué)、施工技術(shù)、有關(guān)安全事務(wù)的技術(shù)等等各種中，對(duì)樣本的無(wú)損檢查是一個(gè)重要目標(biāo)。例如一種通過計(jì)算機(jī)斷層掃描(CT)獲得樣本圖像的方法是基于以X射線從不同投影方向透過樣本平面照射，接著基于不同方向上測(cè)量到的衰減數(shù)據(jù)重建該樣本平面?？梢愿鶕?jù)氡空間中的...
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