技術(shù)編號(hào)：6540381
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種非接觸式集成電路讀取器、檢測(cè)方法、檢測(cè)電路及其系統(tǒng)。非接觸式集成電路（IC）卡讀取器的檢測(cè)方法包括計(jì)算在第一轉(zhuǎn)變間隔期間的至少一個(gè)第一磁脈沖的第一轉(zhuǎn)變時(shí)間；計(jì)算在第二轉(zhuǎn)變間隔期間的第二磁脈沖的第二轉(zhuǎn)變時(shí)間。在校準(zhǔn)階段中計(jì)算第一轉(zhuǎn)變時(shí)間，并且在檢測(cè)階段中計(jì)算第二轉(zhuǎn)變時(shí)間?；诘谝晦D(zhuǎn)變時(shí)間和第二轉(zhuǎn)變時(shí)間的比較來(lái)確定非接觸式IC卡在讀取器的通信范圍之內(nèi)。專利說(shuō)明非接觸式集成電路讀取器、檢測(cè)方法、檢測(cè)電路及其系統(tǒng)[0001]2013 年 3 月 13 日提交的...
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