技術(shù)編號：6491720
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明一般而言涉及順序邏輯單元內(nèi)容，具體來說，涉及保護微控制器中的寄存器內(nèi)容。背景技術(shù) 為發(fā)現(xiàn)制造缺陷，通常對集成電路(IC)進行測試，并且所采用的所述測試其中的一是掃描測試。集成電路存在的一問題是保護敏感的寄存器內(nèi)容。寄存器可由順序邏輯單元組成，且每一順序邏輯單元均可掃描。掃描方法非常有效，卻提供了一種觀看集成電路的許多網(wǎng)絡(luò)或寄存器的邏輯值的容易方法。在所述電路操作一段時期后，便有可能采用所述掃描測試來下載每一寄存器的內(nèi)容。當(dāng)某些寄存器包含來自(例如)密...
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