技術(shù)編號(hào):6420723
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子或通信領(lǐng)域的測(cè)試技術(shù),尤其。背景技術(shù)邊界掃描測(cè)試是一種利用器件內(nèi)部的邊界掃描寄存器單元進(jìn)行測(cè)試的方法。通過(guò)測(cè)試存儲(chǔ)端口(Test Access Port)對(duì)邊界掃描寄存器的訪問(wèn),可以通過(guò)器件內(nèi)部的標(biāo)志寄存進(jìn)行測(cè)試,也可以實(shí)現(xiàn)器件之間的I/O引腳的互連測(cè)試以及編程操作等。如圖1所示,是邊界掃描器件的結(jié)構(gòu)示意圖。隨著集成電路及其應(yīng)用的不斷發(fā)展,邊界掃描技術(shù)在單板級(jí)、器件級(jí)的測(cè)試中被越來(lái)越廣泛地應(yīng)用,基于邊界掃描技術(shù)的測(cè)試儀也應(yīng)運(yùn)而生。一個(gè)典型的基...
注意:該技術(shù)已申請(qǐng)專利,請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。
請(qǐng)注意,此類技術(shù)沒(méi)有源代碼,用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。