技術(shù)編號(hào)：6419227
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及輻射波場(chǎng)的相位確定。并還涉及關(guān)于輻射波場(chǎng)的相位信息的應(yīng)用范圍。在本說明書中，“輻射波場(chǎng)”一詞包括所有以波一樣的形式傳播的輻射，如X射線、可見光和電子束，但不局限于這些形式。測(cè)量輻射波場(chǎng)相位的技術(shù)在基礎(chǔ)物理中有許多用途，并且是眾多包括各種物理特性的測(cè)量技術(shù)的基礎(chǔ)。相位測(cè)量技術(shù)的用途例如包括X射線成象、電子顯微鏡、光學(xué)顯微鏡以及光學(xué)層析成象和X射線相位層析成象等領(lǐng)域。典型的相位測(cè)量是利用各種類型的干涉儀。干涉儀的主要特點(diǎn)在于能夠定量地測(cè)定波場(chǎng)的相位。...
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