技術(shù)編號(hào)：6340067
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及自動(dòng)測(cè)試領(lǐng)域，尤其是涉及用于ATE(Automatic Test Equipment,即自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備)測(cè)試機(jī)臺(tái)的測(cè)試方法學(xué)領(lǐng)域，更具體而言涉及一種針對(duì)PHY (Physical Layer，即物理層)高速接口電路的BIST (Built-in klf-Test，即內(nèi)建自測(cè))測(cè)試電路和測(cè)試方法。背景技術(shù)集成電路測(cè)試對(duì)集成電路的發(fā)展具有重要意義，其不僅是指導(dǎo)產(chǎn)品設(shè)計(jì)、生產(chǎn)和使用的重要依據(jù)，而且是提高產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性、進(jìn)行全面質(zhì)量管理的有效措施。隨著...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。
請(qǐng)注意，此類技術(shù)沒有源代碼，用于學(xué)習(xí)研究技術(shù)思路。