技術(shù)編號(hào)：6242753
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了一種利用非對(duì)稱場(chǎng)流儀分離C60，包括如下步驟步驟一、制備C60納米晶體顆粒；步驟二、將C60納米晶體顆粒配置成C60溶液；步驟三、檢測(cè)C60溶液，得到C60納米晶體顆粒粒徑數(shù)據(jù)；步驟四、處理粒徑數(shù)據(jù)，得到C60納米晶體顆粒粒徑分布結(jié)果。本發(fā)明的有益效果是，提供一種利用非對(duì)稱場(chǎng)流儀耦合多角度激光散射檢測(cè)儀(AF4-MALS)分離C60納米晶體顆粒尺度分布的新方法，此方法方便快捷，能夠獲得連續(xù)的測(cè)試數(shù)據(jù)，方便后續(xù)數(shù)據(jù)處理。專利說明一種利用非對(duì)稱場(chǎng)流...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。