技術(shù)編號：6233261
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種虛擬合成標(biāo)樣的X射線熒光光譜基本參數(shù)法，屬于X射線熒光光譜檢測。將標(biāo)準(zhǔn)樣品與基本參數(shù)法相結(jié)合，選擇合適的工作條件，進行有效的譜線重疊校正和背景扣除等綜合運用，得到各個元素的凈強度值，再虛擬合成一個標(biāo)準(zhǔn)樣品，建立一個用虛擬合成標(biāo)準(zhǔn)樣品制作的基本參數(shù)法曲線，最終使用者采用幾塊標(biāo)樣即可建立同一基體材質(zhì)的通用工作曲線，實現(xiàn)對同一基體的合金的成分準(zhǔn)確檢測，分析范圍寬，基本參數(shù)法不受標(biāo)準(zhǔn)樣品上下限的限制，不用購買大量標(biāo)準(zhǔn)樣品，具有很大的經(jīng)濟效益。還可用于...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。