技術(shù)編號：6221871
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及，步驟a)制備摻鈰閃爍晶體標(biāo)準(zhǔn)品；b)按相同尺寸、相同晶向裁切步驟a)中制備的各標(biāo)準(zhǔn)品；c)沿晶體長度方向測量步驟b)中裁切的各標(biāo)準(zhǔn)品的紫外－可見透過光譜的截止波長；d)采用現(xiàn)有測試方法對b)中裁切的各標(biāo)準(zhǔn)品的各摻鈰閃爍晶體標(biāo)準(zhǔn)品進(jìn)行鈰離子濃度測定；e)建立摻鈰閃爍晶體標(biāo)準(zhǔn)品的截止波長與鈰離子濃度的標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系曲線；f)對與步驟b)相同尺寸待測同質(zhì)晶體樣品，沿晶體長度方向測量其紫外－透過光譜的截止波長，然后根據(jù)步驟e)所建立的標(biāo)準(zhǔn)關(guān)系曲線，找到該截止...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。