技術(shù)編號(hào)：6221361
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供可確保増強(qiáng)電場熱點(diǎn)的密度的同時(shí)、也在金屬粒子間的間隙增強(qiáng)拉曼散射光來提高檢測能力的光學(xué)器件、檢測裝置及電子設(shè)備。光學(xué)器件（10）具有基板（12）、包括在基板上形成的多個(gè)金屬粒子（14）的金屬納米結(jié)構(gòu)（16）、以及在金屬納米結(jié)構(gòu)上形成的有機(jī)分子膜（20）。多個(gè)金屬粒子在俯視觀察下的粒徑為1nm～500nm。有機(jī)分子膜包括沿膜厚方向貫通的多個(gè)空穴（22）。多個(gè)空穴在金屬粒子的表面上沿二維方向排列。多個(gè)空穴的尺寸a滿足0.5nm≦a≦5nm，多個(gè)空穴的...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。