技術(shù)編號：6221351
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，包括測試模塊、I/O（數(shù)模轉(zhuǎn)換）接口模塊和I/O控制模塊，所述測試模塊預(yù)置在待測芯片內(nèi)部并與所述I/O接口模塊和所述I/O控制模塊相匹配，所述測試模塊進(jìn)行IOMODE1測試模式和IOMODE2測試模式兩種模式的測試，所述I/O接口模塊接受測試指令控制所述測試模塊在所述IOMODE1測試模式和所述IOMODE2測試模式之間的轉(zhuǎn)換，所述I/O控制模塊負(fù)責(zé)控制待測芯片I/O的輸入輸出方向并負(fù)責(zé)將所述待測芯片的輸入管腳的電平輸送至對應(yīng)的輸出管腳。使用...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。