技術(shù)編號：6215817
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開了，該方法通過將奧克托今粗品顆粒精制，確定需要抽取的待測樣品的數(shù)目，依據(jù)隨機數(shù)表抽取待測樣品，測量待測樣品的表面粗糙度，計算輪廓算術(shù)平均偏差平均值與輪廓算術(shù)平均偏差示值誤差，最后報告與表示。本發(fā)明采用光學(xué)法進行測試，實現(xiàn)了無損、非接觸測試，量化奧克托今顆粒表面粗糙度值，以此分析和評價高品質(zhì)奧克托今。專利說明[0001]本發(fā)明屬于炸藥領(lǐng)域，涉及奧克托今，具體涉及。背景技術(shù)[0002]對于表面粗糙度的檢測和評價，最早人們是用標(biāo)準(zhǔn)樣件或樣塊，通過經(jīng)驗(...
注意：該技術(shù)已申請專利，請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
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