技術(shù)編號(hào)：6185939
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電學(xué)領(lǐng)域，尤其涉及一種芯片頻率的測(cè)試方法、裝置及系統(tǒng)。背景技術(shù)芯片的頻率測(cè)試是指根據(jù)芯片自身功能正常運(yùn)行時(shí)的最高頻率對(duì)芯片產(chǎn)品進(jìn)行分類的過程。隨著深亞納米制造工藝的發(fā)展，由生產(chǎn)制造缺陷所引起的芯片性能偏差越來越大。一般來說，高性能芯片在生產(chǎn)出來之后，到用戶手中之前，都需要對(duì)芯片的頻率進(jìn)行測(cè)試，即按照不同的芯片功能頻率，對(duì)芯片進(jìn)行評(píng)定和分組，并對(duì)芯片的價(jià)格進(jìn)行劃分頻率高的，市場(chǎng)價(jià)格也高；頻率低的，市場(chǎng)價(jià)格也低一些。綜上所述，頻率測(cè)試將對(duì)芯片標(biāo)定不同...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。