技術(shù)編號(hào)：6184397
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。一種對(duì)CIS芯片的量產(chǎn)測(cè)試方法，基于FPGA模塊進(jìn)行，包括提供具有測(cè)試機(jī)和安裝有MIPI橋接芯片和FPGA模塊的測(cè)試載板的測(cè)試系統(tǒng)；測(cè)試機(jī)控制CIS芯片采集圖像；CIS芯片將圖像數(shù)據(jù)以高速串行信號(hào)的模式輸出到MIPI橋接芯片；MIPI橋接芯片在FPGA模塊控制下讀取高速串行信號(hào)，轉(zhuǎn)換成并行的低速數(shù)據(jù)信號(hào)上傳給FPGA模塊；FPGA模塊讀取并行的低速數(shù)據(jù)信號(hào)，進(jìn)行技術(shù)處理，獲得計(jì)算結(jié)果，將計(jì)算結(jié)果在測(cè)試機(jī)的控制下上傳；測(cè)試機(jī)讀取結(jié)果后進(jìn)行判斷和程序流程的控制...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。