技術(shù)編號(hào):6180175
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開(kāi)了一種。電壓檢測(cè)電路包括晶體管;耦合到晶體管的漏極端子的開(kāi)關(guān);該漏極端子耦合到開(kāi)關(guān)的一端;第一驅(qū)動(dòng)器,其與驅(qū)動(dòng)晶體管的柵極端子的第二驅(qū)動(dòng)器同步地控制開(kāi)關(guān);以及多個(gè)電阻器,其串聯(lián)耦合并耦合到開(kāi)關(guān)的另一端。專利說(shuō)明[0001]本文所討論的實(shí)施例涉及一種用于功率晶體管的電壓檢測(cè)電路和用于測(cè)量功率晶體管的特性的方法。背景技術(shù)[0002]近年來(lái),隨著進(jìn)行功率晶體管的開(kāi)發(fā),已在努力提高高壓半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)元件的性能,高壓半導(dǎo)體開(kāi)關(guān)元件諸如為場(chǎng)效應(yīng)晶體管(FET)、...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。