技術編號：6172958
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。一種SRAM-based?FPGA退化測試系統(tǒng)，屬于電力電子。為了解決現(xiàn)有用于檢測NBTI退化效應使FPGA產生延時量的測量系統(tǒng)測量精度低且進一步解決了無法同時測量多種應力的問題，本發(fā)明包括示波器、控制器、程控雙路電源、輔助控制器FPGA、恒溫箱、A/D轉換器、被測FPGA和晶振；控制器控制輔助控制器FPGA，且輔助控制器FPGA輸出的信號應力、輔助控制器FPGA通過程控雙路電源輸出的電壓應力和通過恒溫箱輸出的溫度應力同時施加給被測FPGA，示波器用于接收...
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