技術編號：6170347
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明提供一種測試操作機，用于集成電路芯片的多種測試，其包含一空間以及一測試載具?？臻g具有一干燥狀態(tài)。測試載具為一高熱傳導材質所制作，其具有多個定位結構以分別容置多個集成電路芯片，測試載具設置且熱接觸于空間內一可調溫裝置上，而可調溫裝置通過熱傳導控制測試載具上集成電路芯片的溫度。本發(fā)明亦提供其相關的測試載具以及相關測試方法。專利說明 [0001] 本發(fā)明涉及一種測試操作機，特別是一具有多個定位結構以定位集成電路芯片且 并通過熱傳導調整集成電路芯片溫度...
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