技術(shù)編號(hào)：6168500
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明公開一種，包括如下步驟以第一步長在第一范圍內(nèi)進(jìn)行掃描獲取最大漏電流對(duì)應(yīng)的柵極電壓所在的第二范圍；以第二步長在所述第二范圍內(nèi)進(jìn)行掃描得到最大漏電流及對(duì)應(yīng)的柵極電壓；其中，所述第一步長大于第二步長。上述測試方法，首先采用更大的第一步長進(jìn)行粗掃描縮小測試電壓的取值范圍，然后采用步長更小的第二步長進(jìn)行細(xì)掃描得到最大漏電流及對(duì)應(yīng)的柵極電壓，相比于傳統(tǒng)的直接采用小步長直接進(jìn)行掃描測試的方法，可以大大減少測試次數(shù)，提高測試效率。專利說明[0001]本發(fā)明涉及元器件...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。