技術(shù)編號(hào)：6168317
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒(méi)有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明提供一種對(duì)含有至少一個(gè)待測(cè)對(duì)象的樣本進(jìn)行檢測(cè)的方法和裝置。所述方法包括利用具有不同位置的光源的檢測(cè)裝置使所述不同位置的光源依次照射所述樣本，獲取所述待測(cè)對(duì)象在不同位置的光源的照射下在一個(gè)投影面上產(chǎn)生的多個(gè)投影；將每個(gè)待測(cè)對(duì)象的多個(gè)投影與已知類型的參照對(duì)象的多個(gè)投影進(jìn)行比較，以確定該待測(cè)對(duì)象的類型。本發(fā)明無(wú)需使用現(xiàn)有龐大復(fù)雜的圖形識(shí)別軟件，且避免了由于操作人員的熟練程度不同而造成的誤差。專利說(shuō)明對(duì)樣本進(jìn)行檢測(cè)檢測(cè)方法和裝置[0001]本發(fā)明涉及一種檢測(cè)...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。