技術(shù)編號：6164980
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實用新型涉及一種開短路測試儀，具體是涉及一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，適用于DVP接口、MIPI單通道接口、MIPI雙通道接口、MIPI四通道接口和自定義接口等各種類型的CMOS芯片的開短路測試。背景技術(shù)開短路測試(又稱OPEN/SHORT測試，0/S測試)，主要是用于測試電子器件的連接情況，顧名思義，開短路測試就是測試開路與短路，開短路測試應(yīng)用非常的廣泛，例如測試PCB板，測試IC邦定線，測試IC的封裝，測試線材，測試FPC，測試薄膜開關(guān)，測試連...
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