專利名稱：Cmos芯片自動開短路測試系統(tǒng)的制作方法
技術(shù)領(lǐng)域：
本實用新型涉及一種開短路測試儀，具體是涉及一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，適用于DVP接口、MIPI單通道接口、MIPI雙通道接口、MIPI四通道接口和自定義接口等各種類型的CMOS芯片的開短路測試。
背景技術(shù)：
開短路測試(又稱OPEN/SHORT測試，0/S測試)，主要是用于測試電子器件的連接情況，顧名思義，開短路測試就是測試開路與短路，開短路測試應(yīng)用非常的廣泛，例如:測試PCB板，測試IC邦定線，測試IC的封裝，測試線材，測試FPC，測試薄膜開關(guān)，測試連接器等等，不同的應(yīng)用又有比較特別的需求，目前，CMOS芯片的開短路測試儀只能針對并口的產(chǎn)品進(jìn)行測試，無法滿足市場上越來越多的MIPI接口 CMOS芯片的開短路測試。
發(fā)明內(nèi)容為了解決上述技術(shù)問題，本實用新型提出一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，能夠滿足市場上各種CMOS芯片的自動開短路測試，優(yōu)化測試效率的同時提高了測試的精度，可依據(jù)不同的CMOS芯片制定測試標(biāo)準(zhǔn)。本實用新型的技術(shù)方案是這樣實現(xiàn)的:一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，包括主控芯片、多路復(fù)用模塊、液晶顯示模塊和存儲模塊，所述主控芯片分別與所述多路復(fù)用模塊、所述液晶顯示模塊和所述存儲模塊相連接，所述多路復(fù)用模塊與待測CMOS芯片相連接，所述主控芯片能夠通過所述多路復(fù)用模塊對待測CMOS芯片的管腳進(jìn)行信號采集并通過軟件進(jìn)行信號處理，能夠通過所述存儲模塊對信號處理結(jié)果進(jìn)行存儲，還能夠通過液晶顯示模塊將信號處理結(jié)果顯示出來。作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，另設(shè)有撥碼裝置，所述撥碼裝置與所述多路復(fù)用模塊相連接，所述多路復(fù)用模塊能夠通過所述撥碼裝置選擇與待測CMOS芯片相匹配的接口模式。作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述接口模式為DVP接口、MIPI單通道接口、MIPI雙通道接口、MIPI四通道接口和自定義接口中的一種。作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，另設(shè)有通信模塊，所述通信模塊與所述主控芯片相連接，所述主控芯片能夠通過所述通信模塊為所述主控芯片供電和傳輸數(shù)據(jù)。作為本實用新型的進(jìn)一步改進(jìn)，所述通信模塊為USB通信接口。本實用新型的有益效果是:本實用新型提供一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，主控芯片通過多路復(fù)用模塊給待測CMOS芯片的GND管腳輸入測試信號，然后，判斷待測CMOS芯片各管腳的保護(hù)二極管是否有導(dǎo)通壓降信號，能夠?qū)崿F(xiàn)CMOS芯片的開路測試，主控芯片通過多路復(fù)用模塊依次給待測CMOS芯片的一個管腳輸入1.5v的測試信號，然后，判斷輸入信號管腳與其它管腳的輸出信號是否相同，能夠?qū)崿F(xiàn)CMOS芯片的短路測試，特別的，多路復(fù)用模塊通過撥碼裝置選擇與待測CMOS芯片相匹配的接口模式，接口模式為DVP接口、MIPI單通道接口、MIPI雙通道接口、MIPI四通道接口和自定義接口中的一種，能夠有效滿足市場上各種CMOS芯片的自動開短路測試，優(yōu)化測試效率的同時提高了測試的精度。

圖1為本實用新型原理示意框圖；圖2為本實用新型測試流程示意圖。
具體實施方式
如圖1和圖2所示，一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，包括主控芯片、多路復(fù)用模塊、液晶顯示模塊和存儲模塊，所述主控芯片分別與所述多路復(fù)用模塊、所述液晶顯示模塊和所述存儲模塊相連接，所述多路復(fù)用模塊與待測CMOS芯片相連接，所述主控芯片能夠通過所述多路復(fù)用模塊對待測CMOS芯片的管腳進(jìn)行信號采集并通過軟件進(jìn)行信號處理，能夠通過所述存儲模塊對信號處理結(jié)果進(jìn)行存儲，還能夠通過液晶顯示模塊將信號處理結(jié)果顯不出來。優(yōu)選的，另設(shè)有撥碼裝置，所述撥碼裝置與所述多路復(fù)用模塊相連接，所述多路復(fù)用模塊能夠通過所述撥碼裝置選擇與待測CMOS芯片相匹配的接口模式。優(yōu)選的，所述接口模式為DVP接口、MIPI單通道接口、MIPI雙通道接口、MIPI四通道接口和自定義接口中的一種。優(yōu)選的，另設(shè)有通信模塊，所述通信模塊與所述主控芯片相連接，所述主控芯片能夠通過所述通信模塊為所述主控芯片供電和傳輸數(shù)據(jù)。優(yōu)選的，所述通信模塊為USB通信接口。本實用新型CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)的測試方法，包括如下步驟:a、開路測試，首先，主控芯片通過多路復(fù)用模塊給待測CMOS芯片的GND管腳輸入
1.5V的測試信號，然后，主控芯片通過多路復(fù)用模塊依次采集待測CMOS芯片各管腳的保護(hù)二極管的導(dǎo)通壓降信號，如果當(dāng)前的管腳的保護(hù)二極管沒有采集到導(dǎo)通壓降信號，則判定當(dāng)前的管腳開路，否則，則判定當(dāng)前管腳正常，通過存儲模塊存儲開路測試信息。b、短路測試，首先，主控芯片通過多路復(fù)用模塊依次給待測CMOS芯片的一個管腳輸入1.5v的測試信號，然后，主控芯片通過多路復(fù)用模塊采集并對比除輸入信號管腳以外其它管腳的輸出信號是否與輸入信號相同，如果信號相同則判定當(dāng)前被采集對比的管腳與信號輸入管腳短路，如果信號不相同則判定當(dāng)前管腳正常，通過存儲模塊存儲短路測試信息；C、將開路信息與短路信息通過液晶顯示模塊顯示出來。本實用新型CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)及測試方法的測試原理如下:開路測試原理，由于正常CMOS芯片保護(hù)二極管的正向?qū)妷涸?.4V-0.5V之間，管腳開路時該保護(hù)二級管不導(dǎo)通，因此可以通過測試CMOS芯片各管腳的保護(hù)二級管的導(dǎo)通電壓信號可以判斷管腳是否開路；短路測試原理，給一個CMOS芯片的管腳輸入測試信號，同時去采集其它管腳上的信號，若采集到的測試信號和輸入的測試信號一致，則表示該管腳與測試的輸入管腳短路。以上實施例是參照附圖，對本實用新型的優(yōu)選實施例進(jìn)行詳細(xì)說明，本領(lǐng)域的技術(shù)人員通過對上述實施例進(jìn)行各種形式上的修改或變更，但不背離本實用新型的實質(zhì)的情況下，都落在本實用新型的保護(hù)范圍之內(nèi)。
權(quán)利要求1.一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，其特征在于:包括主控芯片、多路復(fù)用模塊、液晶顯示模塊和存儲模塊，所述主控芯片分別與所述多路復(fù)用模塊、所述液晶顯示模塊和所述存儲模塊相連接，所述多路復(fù)用模塊與待測CMOS芯片相連接，所述主控芯片能夠通過所述多路復(fù)用模塊對待測CMOS芯片的管腳進(jìn)行信號采集并通過軟件進(jìn)行信號處理，能夠通過所述存儲模塊對信號處理結(jié)果進(jìn)行存儲，還能夠通過液晶顯示模塊將信號處理結(jié)果顯示出來。
2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，其特征在于:另設(shè)有撥碼裝置，所述撥碼裝置與所述多路復(fù)用模塊相連接，所述多路復(fù)用模塊能夠通過所述撥碼裝置選擇與待測CMOS芯片相匹配的接口模式。
3.根據(jù)權(quán)利要求2所述的CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，其特征在于:所述接口模式為DVP接口、MIPI單通道接口、MIPI雙通道接口、MIPI四通道接口和自定義接口中的一種。
4.根據(jù)權(quán)利要求1所述的CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，其特征在于:另設(shè)有通信模塊，所述通信模塊與所述主控芯片相連接，所述主控芯片能夠通過所述通信模塊為所述主控芯片供電和傳輸數(shù)據(jù)。
5.根據(jù)權(quán)利要求4所述的CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，其特征在于:所述通信模塊為USB通信接口。
專利摘要本實用新型公開了一種CMOS芯片自動開短路測試系統(tǒng)，包括主控芯片、多路復(fù)用模塊、液晶顯示模塊和存儲模塊，所述主控芯片分別與所述多路復(fù)用模塊、所述液晶顯示模塊和所述存儲模塊相連接，所述多路復(fù)用模塊與待測CMOS芯片相連接，所述主控芯片能夠通過所述多路復(fù)用模塊對待測CMOS芯片的管腳進(jìn)行信號采集并通過軟件進(jìn)行信號處理，能夠通過所述存儲模塊對信號處理結(jié)果進(jìn)行存儲，還能夠通過液晶顯示模塊將信號處理結(jié)果顯示出來，本實用新型能夠滿足市場上各種CMOS芯片的自動開短路測試，優(yōu)化測試效率的同時提高了測試的精度，可依據(jù)不同的CMOS芯片制定測試標(biāo)準(zhǔn)。
文檔編號G01R31/02GK203054149SQ201220741698
公開日2013年7月10日 申請日期2012年12月28日 優(yōu)先權(quán)日2012年12月28日
發(fā)明者鐘岳良 申請人:昆山丘鈦微電子科技有限公司