技術(shù)編號(hào)：6156191
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種光學(xué)特性測(cè)定裝置以及光學(xué)特性測(cè)定方法，特別是涉及一種用于高精確度地測(cè)定光譜的技術(shù)。 背景技術(shù)以往，作為用于評(píng)價(jià)發(fā)光體等的技術(shù)，廣泛使用著分光測(cè)量。在使用于這種分光測(cè)量的光學(xué)特性測(cè)定裝置中，通常是使用分光器(典型的是衍射光柵)將來(lái)自測(cè)定對(duì)象的發(fā)光體等的測(cè)定光分光為多個(gè)波長(zhǎng)成分，并由光檢測(cè)器來(lái)檢測(cè)分光而得到的各波長(zhǎng)成分。為了盡量降低測(cè)定光以外的光的影響，這些分光器、光檢測(cè)器被收納在殼體內(nèi)。 然而，實(shí)際上光檢測(cè)器的檢測(cè)結(jié)果會(huì)受到在殼體內(nèi)部漫反射的光...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。