技術編號：6155298
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種同軸電纜探針結構，可以高頻率測量集成電路或其他電子元件的 電氣特性。背景技術至今開發(fā)出許多種探測總成，以供量測集成電路或其他形式的微電子元件，其中 代表性總成是使用電路板，上側形成長形導線痕跡，作為信號和地線，探針連接于各信號痕 跡末端，故呈現(xiàn)針尖朝下的徑向延伸排列，以供與受測試微電子元件的焊墊(Pad)選擇性 連接，此種探針在高頻率的測量時，因高頻率阻抗不易控制，故在信號傳輸過程中會發(fā)生高 頻信號反射及損失等問題，因此前述傳統(tǒng)的探針已不適合...
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