技術(shù)編號(hào)：6154133
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種芯片數(shù)據(jù)壓縮測試多路復(fù)用電路，特別是關(guān)于一種用以提 升測試產(chǎn)出速率的芯片數(shù)據(jù)壓縮測試多路復(fù)用電路。背景技術(shù)集成電路(Integrated Circuit, IC)的體積小、功能強(qiáng)大，為信息設(shè)備不可或 缺的電子元件之一。為了確保芯片的功能正常，芯片在出廠前皆必須經(jīng)過嚴(yán)格 的測試。 一種簡單測試方法就是將已知的測試信號(hào)輸入至芯片中的電路，接著 取得芯片電路的反饋信號(hào)，借此來判斷芯片的功能是否正常。圖1A顯示一種公知芯片測試電路100的寫入(wri...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。