技術(shù)編號:6151824
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種全自動控制微電極接近樣品進(jìn)行測量,非損傷性獲得進(jìn)出樣品離 子分子濃度、流動速率及流動方向信息,樣品表面局部電流信息等樣品微區(qū)信息的方法,特 別是涉及全自動化操作非損傷性獲得多樣性樣品微區(qū)信息的技術(shù),屬光機(jī)電一體化技術(shù)領(lǐng) 域。背景技術(shù)現(xiàn)有的非損傷微測技術(shù),是在計算機(jī)控制下,利用微電極以不接觸被測樣品的非 損傷方式測量樣品的局部微區(qū)信息,如進(jìn)出樣品離子分子濃度、流動速率及流動方向信息, 樣品表面局部電流等。測量不同信息采用不同特性的微電極如測量進(jìn)...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。