技術(shù)編號：6143262
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種用于被分析體的分析中的分光測定的粒料(pdlet)，特別是涉及一種能夠進行太赫(THz)范圍的分光測定的粒 料。背景技術(shù)過去，在被分析體的分析的分光測定中，使用稱為FT-IR (fourier transform infrared spectrometer傅立葉變換紅夕卜光譜儀)的裝置，該裝 置利用例如傅立葉變換來測定紅外光的各波長的強度分布(例如參照 專利文獻l)。在分光測定中，從FT-IR的光源輸出的光被照射在被分析體上， 檢測出透過被分...
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