技術(shù)編號(hào):6136443
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及測(cè)試半導(dǎo)體器件所使用的半導(dǎo)體測(cè)試裝置;具體來(lái)說(shuō),是有關(guān)這樣的測(cè)試頭定位裝置,當(dāng)把稱(chēng)為半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置的測(cè)試頭部分裝在該測(cè)試裝置的測(cè)試部時(shí),使其在預(yù)定的高度位置上移動(dòng)并保持。在應(yīng)測(cè)試的半導(dǎo)體器件(一般稱(chēng)為DUT)上外加預(yù)定的圖形測(cè)試信號(hào),測(cè)定其電特性的半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置上(通常稱(chēng)為IC測(cè)試器),把半導(dǎo)體器件運(yùn)送到測(cè)試部,在該測(cè)試部使半導(dǎo)體器件與安裝在稱(chēng)為測(cè)試頭的部分(供給和接收測(cè)試用的各種電信號(hào)的半導(dǎo)體器件測(cè)試裝置的一部分,以下稱(chēng)為測(cè)試頭)上的器...
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