技術(shù)編號(hào)：6134312
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及電子元件的檢驗(yàn)。當(dāng)半導(dǎo)體電子元件離開生產(chǎn)線時(shí)，這時(shí)它們?nèi)匀槐灰黄疬B接在一個(gè)晶片上和/或成為組件的狀態(tài)，組件包裝或沒包裝，很可能呈帶狀布置，半導(dǎo)體電子元件將由一臺(tái)檢驗(yàn)機(jī)進(jìn)行檢驗(yàn)。檢驗(yàn)機(jī)包括分別布置的電極，以便與電子元件的導(dǎo)電區(qū)域(范圍)相接觸。通過機(jī)器的檢驗(yàn)裝置所配置的接口信號(hào)被加在這些電極上，并且被它們所接收。這臺(tái)檢驗(yàn)機(jī)包括一套電子模塊和軟件程序，其通常的功能就是比較每個(gè)被測值與一個(gè)參考值或區(qū)間(或有效值范圍)；以便一般性的判定這個(gè)元件是完好的還...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。