技術(shù)編號：6130980
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明涉及一種測試系統(tǒng)，特別涉及一種降低測試集成電路的信號衰減 的測試系統(tǒng)。背景技術(shù)半導體元件及集成電路在制造的過程中，必須不斷的進行測試。由于目 前的集成電路具有處理高速信號的功能，所以也要進行高速測試，增加了測 試的困難度。集成電路進行高速測試時，傳輸線與相關(guān)界面有一定的信號延 遲與衰減，所以測試系統(tǒng)必須將驅(qū)動器與接收器的的信號分開，這種結(jié)構(gòu)稱為Fly-by。請參考圖1,圖1為現(xiàn)有技術(shù)的測試系統(tǒng)的示意圖。測試系統(tǒng)包含一測 試機IO、 一第一信號線12、...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。