技術(shù)編號(hào)：6128610
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明 一般涉及集成電路領(lǐng)域。本發(fā)明特別是針對(duì)使得能夠以功 能時(shí)鐘速度進(jìn)行掃描測(cè)試的掃描鏈電路。背景技術(shù)常規(guī)集成電路(IC)掃描測(cè)試有兩個(gè)主要功能。首先，在多芯片環(huán)境中，掃描測(cè)試允許驗(yàn)證片間連接的完整性。這種類型的掃描測(cè)試通常被稱為"邊界掃描"測(cè)試并且是電子及電氣工程師協(xié)會(huì)(IEEE )標(biāo) 準(zhǔn)1149.1 (其全部?jī)?nèi)容作為背景和上下文信息在此結(jié)合作為參考)的 主題。其次，在單芯片環(huán)境中，如在1149.1標(biāo)準(zhǔn)中所描述的那樣掃描 測(cè)試允許集成電路的功能塊與外部...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。