技術(shù)編號：6126474
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及一種對光纖進(jìn)行光學(xué)測試、質(zhì)量分析和篩選分切的自動處理方法及設(shè)備。技術(shù)背景光纖在生產(chǎn)加工成形后需要進(jìn)行光學(xué)測試和質(zhì)量分析，在測試分析的基礎(chǔ)上對未達(dá)標(biāo) 的光纖段須進(jìn)行篩選分切處理，以使處理后的整段光纖達(dá)到產(chǎn)品要求的質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。在現(xiàn)有技術(shù)中，上述過程是分開進(jìn)行的，先將待測光纖放到光時域反射計(OTDR)上測試光纖的 長度，衰減，故障點位置等參數(shù)，并提供原始的沿著光纖傳導(dǎo)方向進(jìn)行反射的光功率數(shù)據(jù)； 然后根據(jù)檢測的數(shù)據(jù)進(jìn)行人工分析，并人工判斷如何分切，再手工...
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該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。