技術(shù)編號：6121138
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本實用新型涉及一種在掃描電子顯微鏡中原位拉伸納米線的裝置，利用 掃描電子顯微鏡可以實時觀測納米線拉伸變形過程中的結(jié)構(gòu)變化，揭示納米 線在拉伸載荷下的變形機制，脆韌轉(zhuǎn)變方式，屬于納米材料力學性能原位測 量領域。背景技術(shù)隨著納米技術(shù)的發(fā)展和納米器件的開發(fā)，納米線是納米器件的基本單元， 納米線不僅具有良好的電、磁、光等性質(zhì)，還要要求在器件中承載機械載荷， 傳遞力，執(zhí)行運動等。納米線在外力作用下的力學響應方式和失效形式，例 如脆性斷裂或韌性斷裂，最大斷裂應變量，必...
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