技術(shù)編號(hào)：6120598
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本實(shí)用新型涉及一種測試卡，特別是指一種測試卡的探針結(jié)構(gòu)。背景技術(shù)一般受測物(如晶圓、IC、DRAM…等)須經(jīng)由測試機(jī)臺(tái)的測試，以測試受測物是否符合設(shè)計(jì)上所要求的功能特性，將不良品淘汰以保障產(chǎn)品質(zhì)量。請(qǐng)參閱圖1、圖2所示，而測試機(jī)臺(tái)上的測試卡1，主要設(shè)有一電路板11，所述的電路板11上設(shè)有定位座12，所述的定位座12上排列固定有數(shù)支探針13，所述的探針13接設(shè)有導(dǎo)線14連接在電路板11上，而一般的探針13是由具導(dǎo)電性的金屬或其它導(dǎo)電材質(zhì)所制成，如圖3所示，探...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。