技術(shù)編號(hào):6114256
提示:您尚未登錄,請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒(méi)有賬戶(hù)請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ,登陸完成后,請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及表面分析技術(shù),更具體地說(shuō),涉及動(dòng)態(tài)參考平面校平(leveling)。背景技術(shù) 很多技術(shù)應(yīng)用都涉及測(cè)量表面的狀況。例如,在盤(pán)驅(qū)動(dòng)器領(lǐng)域,在生產(chǎn)期間的不同階段確定盤(pán)表面的微觀拓?fù)湔诔蔀樵诠烙?jì)生產(chǎn)滿(mǎn)意質(zhì)量的盤(pán)的可能性時(shí)的越來(lái)越重要的因素。鑒于在這樣的盤(pán)上存儲(chǔ)著高密度的數(shù)據(jù),因而以1微米量級(jí)的橫向分辨率來(lái)監(jiān)視高度范圍從小于1納米到數(shù)十微米的表面形貌分布。在諸如硬盤(pán)驅(qū)動(dòng)器一類(lèi)的存儲(chǔ)設(shè)備中,讀寫(xiě)頭非??拷D(zhuǎn)盤(pán)。讀寫(xiě)頭使得對(duì)盤(pán)的磁方式訪問(wèn)(而不是物理訪問(wèn))...
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該專(zhuān)利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備,不適合論文引用。