技術(shù)編號(hào)：6113530
提示：您尚未登錄，請(qǐng)點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請(qǐng)點(diǎn) 注 冊(cè) ，登陸完成后，請(qǐng)刷新本頁(yè)查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及 一 種電路檢測(cè)方法與檢測(cè)裝置。 背景技術(shù)對(duì)于電路基板而言，一旦電路表現(xiàn)異常時(shí)，需要找到異常 點(diǎn)以便進(jìn)行修復(fù)，一 種現(xiàn)有電路檢測(cè)缺陷的方法是自動(dòng)光學(xué)檢觀'J法 (Automatic Optical Inspection, AOI)。請(qǐng)參閱圖1 ，是 一 種現(xiàn)有技術(shù)自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)裝置的示意圖。 該自動(dòng)光學(xué)檢測(cè)裝置9包括 一待測(cè)區(qū)92、 一檢測(cè)區(qū)94、 一瑕瘋 待驗(yàn)區(qū)96及 一 正確無(wú)誤區(qū)98 。該待測(cè)區(qū)92與該檢測(cè)區(qū)94連接， 該檢測(cè)區(qū)94與...
注意：該技術(shù)已申請(qǐng)專利，請(qǐng)尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出，在未取得專利權(quán)人授權(quán)前，僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識(shí)儲(chǔ)備，不適合論文引用。