技術(shù)編號:6112495
提示:您尚未登錄,請點(diǎn) 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明涉及質(zhì)譜技術(shù)中大氣壓離子源與質(zhì)譜儀器之間的接口,特別涉及一種大氣壓下離子引入質(zhì)譜儀器的接口及其實(shí)現(xiàn)方法與應(yīng)用。背景技術(shù) 質(zhì)譜法可以對物質(zhì)的精確分子量及分子結(jié)構(gòu)進(jìn)行測定,其主要原理是在電磁場中將待測物質(zhì)離子化,再將這些離子按質(zhì)荷比的不同分離并分別檢測。實(shí)施質(zhì)譜法的儀器即質(zhì)譜儀器一般分為離子源、質(zhì)量分析器和離子檢測器等幾個部分。質(zhì)量分析器工作在高真空中,而離子源可以是在真空中,如電子轟擊源和激光電離源等;也可以在低壓下,如輝光放電源等;或是大氣壓下,如電...
注意:該技術(shù)已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權(quán)人授權(quán)前,僅供技術(shù)研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術(shù)人員進(jìn)行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán),增加技術(shù)思路,做技術(shù)知識儲備,不適合論文引用。