技術(shù)編號：6111080
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細信息。本發(fā)明一般地涉及集成電路組裝測試，更具體地說，涉及在不使用容性感測板的情況下對固定連接和不可接觸連接進行非接觸式測試的方法。背景技術(shù) 容性探測測試常用于確定集成電路連接的完整性。容性探測測試采用非接觸式容性耦合技術(shù)，如在Crook等人的題為“Identification Of Pin-Open Faults By Capacitive Coupling Through The Integrated Circuit Package”的美國專利5,557,20...
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該專利適合技術(shù)人員進行技術(shù)研發(fā)參考以及查看自身技術(shù)是否侵權(quán)，增加技術(shù)思路，做技術(shù)知識儲備，不適合論文引用。