技術編號：6109687
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明的一個目的是用于考慮了平均值的漂移后對電子元件進行測試的一個方法。特別地，它可以被用于測試半導體電子元件的領域，特別地，是例如集成電路的元件?，F(xiàn)有技術中，有一個已知的方法來測試電子元件，它能夠減少測試每一個電子元件所需要的單位測試時間。本發(fā)明的價值在于它提出一個測試方法，這個測試方法首先減少了單位測試時間，第二，可以對這些測試作出響應來用于監(jiān)測漂移，例如，這些漂移可能是一個可以忍受的、但是可能干擾對被測試元件的修改所引起的。所以，需要被進行測試的一個...
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