技術(shù)編號：6109367
提示：您尚未登錄，請點(diǎn) 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點(diǎn) 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術(shù)詳細(xì)信息。本發(fā)明屬于納米材料性能測試領(lǐng)域，具體地，涉及一種利用循環(huán)伏安法測定半導(dǎo)體納米晶LUMO值與HOMO值的方法。背景技術(shù)半導(dǎo)體納米晶由于其大的比表面積、高效的載流子傳輸能力、不同于體相材料又有別于一般分子的光學(xué)、電學(xué)和磁學(xué)等性質(zhì)，在太陽能電池、信息存儲以及發(fā)光器件等諸多領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景，成為廣大科研工作者關(guān)注的焦點(diǎn)。半導(dǎo)體納米晶的能級結(jié)構(gòu)包括組成能級的LUMO(Lowest Unoccupied Molecular Orbital),即未占有電子的能級最...
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