技術編號:6108726
提示:您尚未登錄,請點 登 陸 后下載,如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ,登陸完成后,請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種增強從光譜儀獲得的諸如光譜數(shù)據(jù)和質(zhì)譜數(shù)據(jù)的譜數(shù)據(jù)的方法。背景技術 譜數(shù)據(jù)包括一系列峰和谷,它們對應于樣本內(nèi)的物質(zhì)或元素(常圖示為強度對波長、頻率、能量或質(zhì)量的曲線圖)。對于光發(fā)射譜的情況,可使用各種已知技術激勵樣本。激勵使得原子能量升至較高的能級。當受激樣本中的原子松弛或衰減為較低的激勵能級時,發(fā)出具有分立波長的光子,從而產(chǎn)生一系列所謂的譜線,每一譜線都對應于一能量躍遷。其中,所發(fā)射光子的能量和波長取決于原子的激勵和松弛狀態(tài)之間的能隙。上述能...
注意:該技術已申請專利,請尊重研發(fā)人員的辛勤研發(fā)付出,在未取得專利權人授權前,僅供技術研究參考不得用于商業(yè)用途。
該專利適合技術人員進行技術研發(fā)參考以及查看自身技術是否侵權,增加技術思路,做技術知識儲備,不適合論文引用。