技術編號：6101175
提示：您尚未登錄，請點 登 陸 后下載，如果您還沒有賬戶請點 注 冊 ，登陸完成后，請刷新本頁查看技術詳細信息。本發(fā)明涉及一種集成電路檢測機，特別涉及一種可降低IC損壞率，并可延長組件使用壽命及提供均溫作業(yè)環(huán)境而提升檢測準確率，以大幅提升使用效益的集成電路檢測機。背景技術 在現(xiàn)今，集成電路(integrated circuit，以下簡稱IC)于制作完成后，均會進行電路檢測作業(yè)以淘汰出不良品，由于IC于執(zhí)行作業(yè)時，是處于較高溫的環(huán)境，因此業(yè)者于進行檢測時，是于一模擬的高溫環(huán)境下執(zhí)行檢測而提升測試質量，請參閱圖1所示，是申請人先前申請的中國臺灣專利申請第93209040...
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